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GDT檢具設計設計

培訓對象：
設(she)計、質量(liang)，工藝和制造工程(cheng)師，質量(liang)檢(jian)驗(yan)員(yuan)，檢(jian)具負責人，SQE和采(cai)購(gou)等。直接負責準(zhun)備PPAP的人員(yuan)或APQP小組

課程收益KEY BENEFITS
理解兩類檢具的要求、檢具結構的結構設計、設計原理和應用
學會設計檢具以實現GD&T尺寸和公差的檢測
掌握檢具公差分配的原理，減少測量的風險和損失
提高檢測和生產能力
提供對檢具供應商的審核和(he)驗證(zheng)能力

課程大綱
一、檢具介紹 (Day 1, 0.5 hour)
檢具范圍，定義，目的，功能和使用
檢(jian)具基本類型(xing)和應用

二、計量型檢具原理（尤其針對歐洲和中國檢具的設計）(Variabe Gage) (Day 1, 1 hour)
檢具設計原理
通規, 止規, 環規, 塊規
計量型檢具和功能性檢具簡介
計量型檢具設計要求
檢具基準的確定：模擬法、直接法、目標法
零件的檢具定位設計：平面
零件的檢具定位設計：軸類，V型槽定位，錐度心軸定位
零件的檢具定位設計：孔
檢具的測量指示和固定 (百分表)
檢具(ju)檢測時的零(ling)件(jian)(jian)變形：自(zi)由狀態(tai)、限制狀態(tai)、柔軟性零(ling)件(jian)(jian)

三、計量型檢具原理（尤其針對歐洲和中國檢具的設計） (Variabe Gage) (Day 1, 0.5 hour)
檢具測量值傳遞方式
檢具運動機構的設計
檢(jian)具校準件的設(she)計

四、GD&T檢具原理 (Day 1, 1 hour)
檢具測量方法的選擇
檢具測量封閉原則的使用，消除檢具測量誤差
尺寸控制外形原理
檢具溫度要求
實用性要求：易用、成本和能力
檢具的使用壽命、尺寸、重量、標識、環境
檢具原理偏離
檢具的(de)計量(liang)方(fang)法和維護

五、功能性檢具設計（尤其是北美制造業檢具）(Function Gage) (Day 1, 2 hour)
功能性檢具定位設計
功能性檢具通止規設計
檢具位置度和輪廓度檢測部分設計
功能性檢具夾緊和固定結構設計
功能性檢具整體結構設計
功能性檢具材料選擇和熱處理
功能性檢具基準設置
功能性檢具對檢具基準和車身坐標的要求(Car Body System)
檢具基準球(Gage Ba)和基準孔的設置
柔軟性零件檢具
功能性檢具的評估方法（針對外包檢具）和評估程序，批準檢具必須的文件和要求
模擬檢具的應用 (Paper Gage)
如果通(tong)過計(ji)算機數模(Math Data)實現檢具(ju)設計(ji)和應用(yong) (Soft Gage)

六、檢具的應用 (Day 1, 0.5 hour)
環境條件：溫度、濕度、污染
檢具計量和評審
參考檢具：在線檢具、最終檢具
檢具校準件設計
檢具測量力的分配
檢具尺寸公差標注和公差標注 (Day 1, 1.5 hour)
公差計算：檢具公差、工件公差、實效條件（MMC）
公差分配： 尺寸和幾何公差
檢具定位和通知規公差分配原則
檢具公差分配規范和標準應用
整車廠(通用、大眾汽車等對檢具公差的要求)
美國國標ASME Y14.43檢具公差要求
中(zhong)國(guo)檢具國(guo)家標準(zhun)GB/T 8069的要求

七、形位公差檢具設計 (Day 2, 4 hours)
位置度（同軸度/對稱度）檢具設計
多個孔/軸組的位置度檢具設計
復合/組合位置度檢具設計
位置度*實體MMC檢具設計:
尺寸無關RFS位置度檢具設計
輪廓度檢具設計（劃線法/打表法/探規法等）
雙邊不對等輪廓度檢具設計
復合輪廓度檢具設計
檢具定位基準設計A|B|C
GD&T基準目標對檢具設計
MMC應用在基準的檢具定位設計:
典型結構(gou)件(jian)(jian)、機加工(gong)件(jian)(jian)、鑄(zhu)造件(jian)(jian)、沖壓件(jian)(jian)、內飾(shi)外(wai)飾(shi)自由形(xing)狀表面位置度和輪廓(kuo)度檢具設(she)計(ji)

八、GD&T檢具設計 (續)
跳動度檢具設計
形狀公差檢具實現
方向公差檢具實現
包容原則對檢具設計影響
尺寸(cun)公差檢具(ju)實現

九、檢具公差分配原理 (Day 2, 1 hour)
*公差法 (悲觀公差)
樂觀公差法
包容公差法
實際*公差法
檢具公差和零件GD&T關系
北美歐洲整車廠對功能型檢具的要求 (Day 2, 0.5 hour)
北(bei)美和(he)歐洲功能型(xing)檢(jian)具案(an)例分析(xi) (Day 2, 1.5 hours) 結(jie)合大量實(shi)際檢(jian)具案(an)例圖片和(he)設計(ji)方法

GDT檢具設計設計